儀電物光WKL-702 顆粒圖像分析儀上海儀電物理光學

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顆粒測量的顆粒分析儀器
1、圖像多種處理方法:影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數,以線性或非線性統計方式繪出分布圖。
屬性 | 參數 |
儀器型號 | WKL-702 |
測量范圍 | 0.1~3000(微米) |
總放大倍數 | 8000倍 |
最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
重復性 | 誤差≤±1% |
自動分割速度 | ≤1秒 |
數字攝像機(CCD) | 500萬像素 |
數據儲存 | 電腦另配 |
通信接口 | USB |
操作系統 | Windows 98/XP/7/8/10系統均可 |
電源 | AC220V ±10% 200W |
儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
儀器凈重 | 15kg |